希戈納科技的MaxSys900激光氣體分析儀基于可調(diào)諧激光吸收光譜技術（TDLAS）原理進行測量，獲取待測氣體特征吸收的光譜譜線。半導體激光器發(fā)射出特定波長的激光束（僅能被被測氣體吸收），穿過被測氣體時，激光強度的衰減與被測氣體的濃度成一定的函數(shù)關系，從而進行的定量分析。

可調(diào)諧激光吸收光譜技術（TDLAS）是利用激光波長的可調(diào)諧性，激光的發(fā)射波長隨著工作溫度和電流的變化而改變。通過對電流的周期性調(diào)制，可以使激光波長在小范圍內(nèi)周期性變化，在每個周期內(nèi)可以獲得被測氣體的“單線吸收譜線"數(shù)據(jù)和背景氣體、粉塵等干擾因素的譜線數(shù)據(jù)。在氣體檢測與濃度分析中，為了提高探測靈敏度，一般會根據(jù)現(xiàn)場工況選擇合適的吸收譜線和合適的激光器調(diào)制參數(shù)。

MaxSys900激光氣體分析儀可以直接安裝在過程氣體管道中，無需復雜的采樣和預處理系統(tǒng)，結(jié)構(gòu)簡單、無運動部件。儀器采用OLED 屏幕顯示，低功耗、寬視角、*的低溫性能，-20℃可正常顯示。按鍵操作采用高靈敏度的電容式觸摸按鍵，操作方便快捷。

MaxSys900激光氣體分析儀的技術優(yōu)勢

（1）不受背景氣體干擾影響

采用TDLAS 技術使用的半導體激光的譜寬小于0.0001nm，約為紅外光源譜寬的1/106，遠小于被測氣體吸收譜線的譜寬。其頻率調(diào)制掃描范圍也僅包含被測氣體單吸收譜線（半導體激光吸收光譜技術也因此被稱為單線光譜技術），因此成功消除了背景氣體交叉干擾影響。

（1） 不受粉塵和視窗污染干擾

半導體激光的波長可通過調(diào)制工作電流而被掃描，使激光波長既掃描過有氣體吸收的區(qū)域，也掃描沒有氣體吸收的區(qū)域。當波長位于吸收區(qū)域時可測得包含氣體、粉塵和視窗的總透光率 T1，當波長位于無氣體吸收區(qū)域時可以測得粉塵和視窗透光率 T2，從而可以準確獲得被測氣體的透光率 Tg= T1/T2。TDLAS 技術通過激光波長掃描技術修正了粉塵和視窗污染對測量的影響。

（2） 被測氣體溫度、壓力補償

被測氣體的溫度和壓力變化會導致譜線強度和展寬發(fā)生變化，如果未對溫度或壓力信號修正就會影響測量結(jié)果的準確性。而 TDLAS 技術是對被測氣體單一吸收譜線進行分析，因此可較容易地對溫度、壓力效應進行修正。為此分析儀內(nèi)置了溫度和壓力自動修正功能，能根據(jù)實際測量得到的被測氣體溫度和壓力對氣體成分測量值進行自動修正，從而可實現(xiàn)精確的在線氣體分析。

（3） 原位安裝，無需采樣系統(tǒng)

MaxSys900的主要優(yōu)點是對采樣氣體的低靈敏度，因此不需要成本昂貴、結(jié)構(gòu)復雜的采樣系統(tǒng)。MaxSys900使用法蘭直接安裝在工藝裝置中，這樣就不需要采樣裝置。

這種安裝方式同時具備實時測量功能，沒有采樣延時或采樣切換延時。同時也大大減少了系統(tǒng)的維護工作量。

希戈納科技MaxSys900激光氣體分析儀的漂移小、穩(wěn)定性好，一般零漂和量漂滿足≤±1%FS/半年。標定周期長，減少了分析儀校準的工作量。